ASTM E1127-08(2015)

Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy (Withdrawn 2024)

NORM herausgegeben am 1.6.2015

Englisch -
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM E1127-08(2015)
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.6.2015
Zahl der Seiten: 5
Gewicht ca.: 15 g (0.03 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM E1127-08(2015) :

Keywords:
angle lapping, angle-resolved AES, Auger electron spectroscopy, ball cratering, compositional depth profiling, cross sectioning, depth profiling, depth resolution, sputter depth profiling, sputtering, thin films,, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)