
Standard Test Method for Determining the Effective Elastic Parameter for X-Ray Diffraction Measurements of Residual Stress
NORM herausgegeben am 10.10.1998
Bezeichnung normen: ASTM E1426-98
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.10.1998
Zahl der Seiten: 4
Gewicht ca.: 12 g (0.03 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
Crystal lattice structure, Effective elastic parameter (Eeff), Macroscopic analysis, Polycrystalline materials, Residual stress, Stress, X-ray diffraction, effective elastic parameter (Eeff) for X-ray diffraction measurements of, residual stress, test