ASTM E1438-11(2019)

Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS

NORM herausgegeben am 1.11.2019

Englisch -
PDF - sofortiges Download (54.20 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM E1438-11(2019)
Ausgabedatum normen: 1.11.2019
Zahl der Seiten: 3
Gewicht ca.: 9 g (0.02 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM E1438-11(2019) :

Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)