ASTM E1438-26

Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS

NORM herausgegeben am 1.10.2026

Englisch -
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Norm und Redline – Sicheres Online-PDF (68.50 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM E1438-26
Ausgabedatum normen: 1.10.2026
Zahl der Seiten: 3
Gewicht ca.: 9 g (0.02 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM E1438-26 :

Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)