Standard Guide for Performing Sputter Crater Depth Measurements
NORM herausgegeben am 1.11.2019
Bezeichnung normen: ASTM E1634-11(2019)
Ausgabedatum normen: 1.11.2019
Zahl der Seiten: 3
Gewicht ca.: 9 g (0.02 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
Auger electron spectroscopy, secondary ion mass spectrometry, stylus profilometry, surface analysis , X-ray photoelectron spectroscopy,, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)