Standard Guide for Handling Specimens Prior to Surface Analysis
NORM herausgegeben am 1.5.2009
Bezeichnung normen: ASTM E1829-09
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.5.2009
Zahl der Seiten: 5
Gewicht ca.: 15 g (0.03 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
Auger electron spectroscopy, secondary ion mass spectrometry, specimen handling, surface analysis, X-ray photoelectron spectroscopy, Specimen preparation (for testing)--spectrochemical analysis, Surface analysis--spectrochemical analysis, Auger electron spectroscopy (AES), SIMS (secondary ion mass spectrometry), X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)