Standard Test Method for Use of 2N2222A Silicon Bipolar Transistors as Neutron Spectrum Sensors and Displacement Damage Monitors (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NORM herausgegeben am 1.6.2004
Bezeichnung normen: ASTM E1855-04e1
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.6.2004
Zahl der Seiten: 11
Gewicht ca.: 33 g (0.07 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
displacement damage, neutron damage, radiation hardness, silicon transistors, spectrum sensors, ICS Number Code 31.200 (Integrated circuits. Microelectronics)