Standard Test Method for Use of 2N2222A Silicon Bipolar Transistors as Neutron Spectrum Sensors and Displacement Damage Monitors
NORM herausgegeben am 1.10.2010
Bezeichnung normen: ASTM E1855-10
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.10.2010
Zahl der Seiten: 10
Gewicht ca.: 30 g (0.07 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
displacement damage, neutron damage, radiation hardness, silicon transistors, spectrum sensors, Damage assessment--nuclear materials/applications, Displacement--electronic materials/applications, Radiation-hardness testing, Silicon bipolar transistors, Spectrum sensors, ICS Number Code 31.200 (Integrated circuits. Microelectronics)