Standard Test Method for In-Plane Length Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer
NORM herausgegeben am 1.11.2011
Bezeichnung normen: ASTM E2244-11
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.11.2011
Zahl der Seiten: 11
Gewicht ca.: 33 g (0.07 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
cantilevers, combined standard uncertainty, deflection measurements, fixed-fixed beams, interferometry, length measurements, microelectromechanical systems, MEMS, polysilicon, residual strain, strain gradient, test structure, ICS Number Code 37.040.20 (Photographic paper, film and plates. Cartridges)