ASTM E2245-05

Standard Test Method for Residual Strain Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer

NORM herausgegeben am 1.11.2005

Englisch -
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM E2245-05
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.11.2005
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM E2245-05 :

Keywords:
cantilevers, combined standard uncertainty, fixed-fixed beams, interferometry, length measurements, microelectromechanical systems, MEMS, polysilicon, residual strain, stiction, strain gradient, test structure, ICS Number Code 37.040.20 (Photographic paper, film and plates. Cartridges)