ASTM E2382-04

Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy

NORM herausgegeben am 1.8.2004

Englisch -
Sicheres Online-PDF (82.00 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM E2382-04
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.8.2004
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM E2382-04 :

Keywords:
Abbe offset error, creep, dilation, hysteresis, nonlinearity, probe-sample mixing, AFM, STM, tip shape, proximal probe, geometric mixing, image reconstruction, ICS Number Code 17.040.20 (Properties of surfaces)