ASTM E2382-04(2020)

Standard Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy

NORM herausgegeben am 1.12.2020

Englisch -
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM E2382-04(2020)
Ausgabedatum normen: 1.12.2020
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM E2382-04(2020) :

Keywords:
Abbe offset error, creep, dilation, hysteresis, nonlinearity, probe-sample mixing, AFM, STM, tip shape, proximal probe, geometric mixing, image reconstruction,, ICS Number Code 17.040.20 (Properties of surfaces)