ASTM E2444-11e1

Terminology Relating to Measurements Taken on Thin, Reflecting Films (Includes all amendments And changes 5/28/2018).

NORM herausgegeben am 15.10.2011

Englisch -
PDF - sofortiges Download (62.30 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM E2444-11e1
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 15.10.2011
Zahl der Seiten: 2
Gewicht ca.: 6 g (0.01 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM E2444-11e1 :

Keywords:
cantilevers, definitions, fixed-fixed beams, interferometry, length measurements, microelectromechanical systems, MEMS, polysilicon, residual strain, stiction, strain gradient, terminology, test structure, ICS Number Code 01.040.31 (Electronics (Vocabularies)), 31.240 (Mechanical structures for electronic equipment)