ASTM E2530-06

Standard Practice for Calibrating the Z-Magnification of an Atomic Force Microscope at Subnanometer Displacement Levels Using Si(111) Monatomic Steps (Withdrawn 2015)

NORM herausgegeben am 1.11.2006

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM E2530-06
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.11.2006
Zahl der Seiten: 6
Gewicht ca.: 18 g (0.04 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM E2530-06 :

Keywords:
atomic force microscope, atomic steps, AFM, calibration, measurement, silicon, z-magnification, ICS Number Code 19.020 (Test conditions and procedures in general), 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)