Standard Practice for Calibrating the Magnification of a Scanning Electron Microscope
NORM herausgegeben am 10.12.1998
Bezeichnung normen: ASTM E766-98
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.12.1998
Zahl der Seiten: 6
Gewicht ca.: 18 g (0.04 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
Calibration-microscopes, Scanning electron microscope (SEM), scanning electron microscopes (SEM´s), practice,, Electron microscopy, Scanning electron microscope (SEM), calibrating the magnification of scanning electron microscopes (SEM´s),, practice, ICS Number Code 37.020 (Optical equipment)