Standard Guide for Background Subtraction Techniques in Auger Electron Spectroscopy and X-ray Photoelectron Spectroscopy
NORM herausgegeben am 1.7.2004
Bezeichnung normen: ASTM E995-04
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.7.2004
Zahl der Seiten: 4
Gewicht ca.: 12 g (0.03 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
Auger electron spectroscopy, background subtraction, surface analysis, X-ray photoelectron spectroscopy, ICS Number Code 17.180.30 (Optical measuring instruments)