ASTM F110-00a

Standard Test Method for Thickness of Epitaxial or Diffused Layers in Silicon by the Angle Lapping and Staining Technique (Withdrawn 2003) (Includes all amendments And changes 8/16/2017).

NORM herausgegeben am 10.12.2000

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F110-00a
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.12.2000
Zahl der Seiten: 4
Gewicht ca.: 12 g (0.03 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F110-00a :

Keywords:
angle lapping, diffused layer, epitaxial layer, etching, fringe count, staining, thickness, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)