ASTM F1153-92(2002)

Standard Test Method for Characterization of Metal-Oxide-Silicon (MOS) Structures by Capacitance-Voltage Measurements (Withdrawn 2003)

NORM herausgegeben am 15.5.1992

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F1153-92(2002)
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 15.5.1992
Zahl der Seiten: 7
Gewicht ca.: 21 g (0.05 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F1153-92(2002) :

Keywords:
capacitance-voltage, carrier concentration, fixed charge density, flatband capacitance, flatband voltage, metal-oxide-silicon structures, mobile ionic charge, MOS structures, silicon, ICS Number Code 31.060.01 (Capacitors in general)