ASTM F1192-00(2006)

Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices

NORM herausgegeben am 1.7.2006

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F1192-00(2006)
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.7.2006
Zahl der Seiten: 11
Gewicht ca.: 33 g (0.07 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F1192-00(2006) :

Keywords:
SEB, SEE, SEFI, SEGR, SEL, SEP, SEP cross section, SEU, single event, single event effect, single event phenomena, single event upset, space environment, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)