Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices
NORM herausgegeben am 1.5.2024
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Bezeichnung normen: ASTM F1192-24
Ausgabedatum normen: 1.5.2024
Zahl der Seiten: 12
Gewicht ca.: 36 g (0.08 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
SEB, SEE, SEFI, SEGR, SEL, SEP, SEP cross section, SEU, single event, single event effect, single event phenomena, single event upset, space environment,, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)