Standard Guide for Design of Flat, Straight-Line Test Structures for Detecting Metallization Open-Circuit or Resistance-Increase Failure Due to Electromigration [Metric]
NORM herausgegeben am 1.1.1996
Bezeichnung normen: ASTM F1259M-96
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.1.1996
Zahl der Seiten: 2
Gewicht ca.: 6 g (0.01 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
design guideline, electromigration, electromigration failure, interconnect metallization, metallization open circuit, metallization resistance, microelectronic, test structure, ICS Number Code 17.220.20 (Measurement of electrical and magnetic quantities), 31.200 (Integrated circuits. Microelectronics)