ASTM F1259M-96(2003)

Standard Guide for Design of Flat, Straight-Line Test Structures for Detecting Metallization Open-Circuit or Resistance-Increase Failure Due to Electromigration [Metric] (Withdrawn 2009)

NORM herausgegeben am 10.6.1996

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F1259M-96(2003)
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.6.1996
Zahl der Seiten: 2
Gewicht ca.: 6 g (0.01 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F1259M-96(2003) :

Keywords:
design guideline, electromigration, electromigration failure, interconnect metallization, metallization open-circuit, metallization resistance, microelectronic, test structure