ASTM F1260M-96

Standard Test Method for Estimating Electromigration Median Time-To-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations [Metric]

NORM herausgegeben am 1.1.1996

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F1260M-96
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.1.1996
Zahl der Seiten: 8
Gewicht ca.: 24 g (0.05 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F1260M-96 :

Keywords:
electromigration, electromigration metallization, integrated circuit, microelectronics, open circuit, resistance increase, time-to-failure, ICS Number Code 17.220.20 (Measurement of electrical and magnetic quantities), 31.200 (Integrated circuits. Microelectronics)