ASTM F1260M-96(2003)

Standard Test Method for Estimating Electromigration Median Time-to-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations [Metric] (Withdrawn 2009)

NORM herausgegeben am 10.6.1996

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F1260M-96(2003)
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.6.1996
Zahl der Seiten: 8
Gewicht ca.: 24 g (0.05 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F1260M-96(2003) :

Keywords:
electromigration, electromigration metallization, integrated circuit, microelectronics, open circuit, resistance increase, time-to-failure