Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold Testing of Digital Integrated Circuits (Metric) (Withdrawn 2023)
NORM herausgegeben am 1.6.2014
Bezeichnung normen: ASTM F1262M-14
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.6.2014
Zahl der Seiten: 6
Gewicht ca.: 18 g (0.04 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
digital integrated circuits, digital IC´s, functional errors, ionizing, pulsed radiation, radiation, transient radiation, upset threshold, ICS Number Code 031.200 ()