
Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold of Digital Integrated Circuits
NORM herausgegeben am 10.11.1995
Bezeichnung normen: ASTM F1262M-95
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.11.1995
Zahl der Seiten: 5
Gewicht ca.: 15 g (0.03 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
digital integrated circuits, digital IC´s, functional errors, ionizing, pulsed radiation, radiation, transient radiation, upset threshold