
Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold of Digital Integrated Circuits
NORM herausgegeben am 10.12.2002
Bezeichnung normen: ASTM F1262M-95(2002)
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.12.2002
Zahl der Seiten: 5
Gewicht ca.: 15 g (0.03 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
digital integrated circuits, digital IC´s, functional errors, ionizing, pulsed radiation, radiation, transient radiation, upset threshold, ICS Number Code 31.200 (Integrated circuits. Microelectronics)