Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold Testing of Digital Integrated Circuits (Metric)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F1262M-95(2008)
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 15.6.2008
Zahl der Seiten: 5
Gewicht ca.: 15 g (0.03 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F1262M-95(2008) :

Keywords:
digital integrated circuits, digital IC´s, functional errors, ionizing, pulsed radiation, radiation, transient radiation, upset threshold, Combinational logic, Destructive testing--semiconductors, Digital integrated circuits, Electrical conductors (semiconductors), Failure end point--electronic components/devices, 0Functional errors, Integrated circuits, Ionizing radiation, Irradiance/irradiation--semiconductors, 0Microelectronic devices, MSI integrated circuits, Output transient voltage