Standard Guide for Analysis of Overtest Data in Radiation Testing of Electronic Parts
NORM herausgegeben am 1.6.2011
Bezeichnung normen: ASTM F1263-11
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.6.2011
Zahl der Seiten: 3
Gewicht ca.: 9 g (0.02 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
confidence, rejection, overtest data, statistical analysis, Acceptance criteria/testing, Data analysis, Electrical conductors (semiconductors), Estimated survival probability, Failure end point--electronic components/devices, Microelectronic devices, Overtest data, Probability of survival, Quality assurance (QA), Stress--electronic components/device, ICS Number Code 31.020 (Electronic components in general)