Standard Test Method for Generation Lifetime and Generation Velocity of Silicon Material by Capacitance-Time Measurements of Metal-Oxide-Silicon (MOS) Capacitors (Withdrawn 2003)
NORM herausgegeben am 1.1.2000
Bezeichnung normen: ASTM F1388-92(2000)
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.1.2000
Zahl der Seiten: 7
Gewicht ca.: 21 g (0.05 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
capacitance-time measurements, C-t measurements, generation lifetime, lifetime, generation velocity, MOS capacitor, silicon, ICS Number Code 31.060.01 (Capacitors in general)