Test Method for Crystallographic Perfection of Gallium Arsenide by Molten Potassium Hydroxide (KOH) Etch Technique
NORM herausgegeben am 10.6.1999
Bezeichnung normen: ASTM F1404-92(1999)
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.6.1999
Zahl der Seiten: 6
Gewicht ca.: 18 g (0.04 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
Contamination-semiconductors, Crystal lattice structure, Defects-semiconductors, Density-electronic applications, Etch pit density (EPD), Gallium arsenide, Impurities-semiconductors, KOH etch pits, Microscopic examination-electronic materials, Molten KOH etch technique, Monocrystalline perfection, crystallographic perfection of (doped/undoped) gallium arsenide, ingot/wafer, by molten KOH etch technique, test, ICS Number Code 71.060.50 (Salts)