ASTM F1467-18

Standard Guide for Use of an X-Ray Tester (approximately equal10 keV Photons) in Ionizing Radiation Effects Testing of Semiconductor Devices and Microcircuits

NORM herausgegeben am 1.3.2018

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F1467-18
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.3.2018
Zahl der Seiten: 18
Gewicht ca.: 54 g (0.12 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F1467-18 :

Keywords:
ionizing radiation effects, microcircuits, radiation hardness, semiconductor devices, X-ray testing,, ICS Number Code 31.020 (Electronic components in general)