NORMSERVIS s.r.o.

ASTM F1619-95(2000)

Standard Test Method for Measurement of Interstitial Oxygen Content of Silicon Wafers by Infrared Absorption Spectroscopy with p-Polarized Radiation Incident at the Brewster Angle

NORM herausgegeben am 15.9.1995

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F1619-95(2000)
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 15.9.1995
Zahl der Seiten: 7
Gewicht ca.: 21 g (0.05 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F1619-95(2000) :

Keywords:
Brewster angle, infrared absorption, interstitial oxygen, oxygen, silicon