ASTM F1630-00

Standard Test Method for Low Temperature FT-IR Analysis of Single Crystal Silicon for III-V Impurities (Withdrawn 2003)

NORM herausgegeben am 10.12.2000

Englisch -
Sicheres Online-PDF (74.50 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F1630-00
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.12.2000
Zahl der Seiten: 6
Gewicht ca.: 18 g (0.04 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F1630-00 :

Keywords:
analysis of silicon, determination of dopants, determination of impurities, electrically active impurities, Fourier transform infrared, impurities, silicon, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)