ASTM F1725-02

Standard Guide for Analysis of Crystallographic Perfection of Silicon Ingots (Withdrawn 2003)

NORM herausgegeben am 10.12.2002

Englisch -
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F1725-02
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.12.2002
Zahl der Seiten: 3
Gewicht ca.: 9 g (0.02 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F1725-02 :

Keywords:
dislocation, grain boundaries, ingot, polycrystaline imperfections, preferential etch, silicon, slip, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)