ASTM F1771-97(2002)

Standard Test Method for Evaluating Gate Oxide Integrity by Voltage Ramp Technique (Withdrawn 2003)

NORM herausgegeben am 10.2.1997

Englisch -
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F1771-97(2002)
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.2.1997
Zahl der Seiten: 8
Gewicht ca.: 24 g (0.05 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F1771-97(2002) :

Keywords:
current density, defect density, electric field strength, extrinsic breakdown, intrinsic breakdown, oxide breakdown, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)