ASTM F1809-97

Standard Guide for Selection and Use of Etching Solutions to Delineate Structural Defects in Silicon

NORM herausgegeben am 10.6.1997

Englisch -
Sicheres Online-PDF (76.80 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F1809-97
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.6.1997
Zahl der Seiten: 9
Gewicht ca.: 27 g (0.06 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F1809-97 :

Keywords:
defect density, dislocation, grain boundary, microscopic, polycrystalline, imperfection, preferential etch, silicon, slip, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)