ASTM F1892-04

Standard Guide for Ionizing Radiation (Total Dose) Effects Testing of Semiconductor Devices

NORM herausgegeben am 1.5.2004

Englisch -
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F1892-04
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.5.2004
Zahl der Seiten: 39
Gewicht ca.: 117 g (0.26 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F1892-04 :

Keywords:
ASIC (application specific integrated circuit), bipolar, cobalt 60 testing, gamma ray tests, ionizing radiation testing, MOS, radiation hardness, semiconductor devices, time dependent effects, total dose testing, X-ray testing, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)