
Standard Guide for Ionizing Radiation (Total Dose) Effects Testing of Semiconductor Devices
NORM herausgegeben am 1.3.2018
    
        Bezeichnung normen: ASTM F1892-12(2018)
                
                
                
               
                Ausgabedatum normen:  1.3.2018
        Zahl der Seiten: 41
Gewicht ca.: 123 g (0.27 Pfund)
        Land:          Amerikanische technische Norm
        Kategorie: Technische Normen ASTM
        
                
              
Keywords:
ASIC (application specific integrated circuit), bipolar, cobalt 60 testing, ELDRS (enhanced low dose rate sensitivity), gamma ray tests, ionizing radiation testing, MOS, radiation hardness, semiconductor devices, time dependent effects, total dose testing, X-ray testing,, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)