ASTM F1893-11

Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Survivability and Burnout of Semiconductor Devices

NORM herausgegeben am 1.1.2011

Englisch -
Sicheres Online-PDF (73.20 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F1893-11
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.1.2011
Zahl der Seiten: 7
Gewicht ca.: 21 g (0.05 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F1893-11 :

Keywords:
burnout, failure, high dose-rate, integrated circuits, ionizing radiation, latchup, microcircuits, semiconductor devices, survivability, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)