ASTM F1893-98

Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Burnout of Semiconductor Devices

NORM herausgegeben am 10.5.1998

Englisch -
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F1893-98
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.5.1998
Zahl der Seiten: 5
Gewicht ca.: 15 g (0.03 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F1893-98 :

Keywords:
burnout, failure, high dose-rate, integrated circuits, ionizing radiation, latchup, microcircuits, semiconductor devices, survivability, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)