Standard Guide for Measuring Characteristics of Sapphire Substrates
NORM herausgegeben am 1.5.2004
Bezeichnung normen: ASTM F2358-04
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.5.2004
Zahl der Seiten: 7
Gewicht ca.: 21 g (0.05 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
backside processing, compound semiconductors, flatness, form, front-to-front deviation (FFD), measurement, restrained, sag, sapphire, sapphire substrates, sori, taper, total thickness variation (TTV), unrestrained, ICS Number Code 25.100.70 (Abrasives)