Standard Test Methods for Determining the Orientation of a Semiconductive Single Crystal (Withdrawn 2003) (Includes all amendments And changes 3/2/2021).
NORM herausgegeben am 1.1.1999
Bezeichnung normen: ASTM F26-87a(1999)
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.1.1999
Zahl der Seiten: 5
Gewicht ca.: 15 g (0.03 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
germanium, orientation, preferential etch, semiconductor, silicon, X-ray diffraction, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)