ASTM F397-02

Standard Test Method for Resistivity of Silicon Bars Using a Two-Point Probe (Withdrawn 2003)

NORM herausgegeben am 10.12.2002

Englisch -
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F397-02
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.12.2002
Zahl der Seiten: 11
Gewicht ca.: 33 g (0.07 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F397-02 :

Keywords:
polysilicon, resistivity, silicon, two-point probe, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)