
Standard Test Method for Majority Carrier Concentration in Semiconductors by Measurement of Wavenumber or Wavelength of the Plasma Resonance Minimum (Withdrawn 2003)
NORM herausgegeben am 15.5.1992
Bezeichnung normen: ASTM F398-92(2002)
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 15.5.1992
Zahl der Seiten: 10
Gewicht ca.: 30 g (0.07 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
gallium arsenide, germanium, infrared reflectance, majority carrier concentration, plasma resonance, semiconductors, silicon, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)