ASTM F522-94

Test Method for Stacking Fault Density of Epitaxial Layers of Silicon by Interference-Contrast Microscopy (Withdrawn 1998)

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F522-94
Anmerkung: UNGÜLTIG
Zahl der Seiten: 4
Gewicht ca.: 12 g (0.03 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F522-94 :

Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)