ASTM F613-93

Test Method for Measuring Diameter of Semiconductor Wafers (Withdrawn 2001)

NORM herausgegeben am 1.1.1993

Englisch -
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F613-93
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.1.1993
Zahl der Seiten: 5
Gewicht ca.: 15 g (0.03 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F613-93 :

Keywords:
Diameter-electronic components/devices, Electrical conductors-semiconductors, silicon slices/wafers- diameter, test,, Silicon-semiconductor applications, slices/wafers-diameter, test, ICS Number Code 77.040.01 (Testing of metals in general)