ASTM F617-00

Standard Test Method for Measuring MOSFET Linear Threshold Voltage (Withdrawn 2006)

NORM herausgegeben am 10.6.2000

Englisch -
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F617-00
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.6.2000
Zahl der Seiten: 6
Gewicht ca.: 18 g (0.04 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F617-00 :

Keywords:
drain leakage current, drain voltage, linear threshold voltage, MOSFET, n-channel, p-channel, ICS Number Code 31.080.30 (Transistors)