ASTM F671-99

Standard Test Method for Measuring Flat Length on Wafers of Silicon and Other Electronic Materials (Withdrawn 2003)

NORM herausgegeben am 10.12.1999

Englisch -
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F671-99
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.12.1999
Zahl der Seiten: 4
Gewicht ca.: 12 g (0.03 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F671-99 :

Keywords:
flats, optical comparator, orientation flats, semiconductor, silicon, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)