Standard Test Method for Measuring Dose Rate Threshold for Upset of Digital Integrated Circuits (Metric) (Withdrawn 2023)
NORM herausgegeben am 1.5.2016
Bezeichnung normen: ASTM F744M-16
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.5.2016
Zahl der Seiten: 7
Gewicht ca.: 21 g (0.05 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
DIC, digital integrated circuits, dose rate, ionizing radiation, radiation dose rate, threshold for upset, upset ,, ICS Number Code 31.200 (Integrated circuits. Microelectronics)